<big id="ptv1b"><th id="ptv1b"><thead id="ptv1b"></thead></th></big>
    <track id="ptv1b"></track>

      <del id="ptv1b"><address id="ptv1b"><ol id="ptv1b"></ol></address></del>
      <p id="ptv1b"></p>

      <listing id="ptv1b"></listing>
      <track id="ptv1b"></track><p id="ptv1b"></p>

      <listing id="ptv1b"><progress id="ptv1b"></progress></listing>

      <big id="ptv1b"><noframes id="ptv1b">

        <video id="ptv1b"></video>

          <output id="ptv1b"></output>
            您好,歡迎您進入無錫星杰測試有限公司官方網站!
            24小時服務熱線:15961723550

            新聞資訊

            聯系我們/Contact Us
            聯系人:浦經理
            手機:15961723550
            電話:0510-85623588
            網址:www.amylynw.com
            地址:無錫市高浪路999號太湖科技中心A座A107室
            行業資訊
            您的位置: 新聞資訊 > 行業資訊 > 詳細信息

            CP測試特點是什么?

            所屬類別:2019-10-21 閱讀:644次
            在進行CP測試期間,所使用的探針都是懸臂針,這樣的在進行操作的過程中針會比較長,是處于懸空狀態,在進行信號控制方面會存在一定的問題,所以在進行數據傳遞的時候傳輸率需要集中在一定范圍之內,高速信號也不在這樣的測試范疇之內。

            進行CP測試操作期間是可以進行選擇的,在對產品進行封裝的過程中,可能會因為各種因素而導致芯片質量出現問題,有的時候芯片的特點和效率都會因為封裝方式不當而影響到實際效果。因此在FT測試階段需要進行很多嘗試測試,這樣才可以確保沒有任何影響因素,但是和這種測試相比CP階段就可以有選擇性的進行。
             
            需要明確CP測試的范圍,在CP階段其實只可以對簡單的DC進行測試,這樣可以了解到低速數字電路的應用情況,以及各項功能是否正常,同時還需要進行其他的輔助性操作。如果在測試期間進入比較困難的階段,這個時候可以通過其他測試方法來解決,以便于提升工作效率,更好的解決相關操作。
             
            在進行CP測試期間還需要注意測試標準的確定,進行這項測試時不要對精度有太高的要求,因為該測試只能完成初步的測試操作,如果要進行嚴格的測試需要通過其他方式來進行。針對不同的情況,也要有選擇性的進行測試,例如當封裝成本比較小的時候,不需要通過該測試來完成,工作人員需要對CP階段測試的特點和應用有基本的了解。

            相關產品:

            真空包裝機
            真空包裝機
            STS 8200B
            STS 8200B
            氮氣柜
            氮氣柜
            探針臺UF200A
            探針臺UF200A
            萬用表
            萬用表
            Copyright © 2018 無錫星杰測試有限公司 All Rights Reservrd 版權所有 技術支持:無錫網絡推廣 蘇ICP備18013164號-1
            網站部分圖片來自互聯網,如有侵權,請及時通知,我們會及時更換!  XML  HTML
            尤物精品视频无码福利网_2021无码专区人妻系列日韩_亚洲欧美日韩中文无线码_波多野吉衣一级黄片