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            4568寸片測試在芯片測試中有什么作用呢?

            所屬類別:2020-03-24 閱讀:759次
                  在很多普通人眼里,芯片測試只是一個簡單的步驟。其實殊不知,芯片測試需要涉及到的因素特別多,并不是簡單的挑選測試就可以了,任何的測試都是需要嚴格的步驟的。尤其是諸如芯片測試這樣的高技術含量的事情,其實對于每一個細節都是比較嚴格的,從圓片測試,4568寸片測試再到其他的測試細節,每一個細節都需要全程的監督與跟蹤。下面我們就具體的看一下關于4568寸片測試的細節控制。

                  其實從一款芯片設計之初,開發人員就應該想到后期的測試問題了,要減少芯片的出錯問題,減少外來電源對芯片的影響和測試。一切的測試的向量都應該在可控制的范圍內,諸如4568寸片測試就是其中的一個向量測試因素。只有等芯片的所有的測試都完全的合格之后,才可以進入到下一個階段,也就是ATE測試的同步,這其中還有晶圓的問題,芯片的測試周期需要縮短,不能浪費太長的時間,節約時間成本也是一個需要控制的因素。

                  只有經過了4568寸片測試,經過了各項不同的測試之后,所有的芯片才可以正式進入到量產的階段,這個時候我們需要做的就是監督的問題,監督整個的合格率,客戶的述求和PPM低,這些都是需要持續優化的過程。4568寸片測試并不是芯片測試的最后一個環節,當然也不是唯一的環節。

            芯片測試

                  總之,芯片測試不只是涉及到一個成本預算的問題,其實還涉及到效率問題,最終的成本平衡的控制問題。這都需要相關人員好好操作。

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