<big id="ptv1b"><th id="ptv1b"><thead id="ptv1b"></thead></th></big>
    <track id="ptv1b"></track>

      <del id="ptv1b"><address id="ptv1b"><ol id="ptv1b"></ol></address></del>
      <p id="ptv1b"></p>

      <listing id="ptv1b"></listing>
      <track id="ptv1b"></track><p id="ptv1b"></p>

      <listing id="ptv1b"><progress id="ptv1b"></progress></listing>

      <big id="ptv1b"><noframes id="ptv1b">

        <video id="ptv1b"></video>

          <output id="ptv1b"></output>
            您好,歡迎您進入無錫星杰測試有限公司官方網站!
            24小時服務熱線:15961723550

            新聞資訊

            聯系我們/Contact Us
            聯系人:浦經理
            手機:15961723550
            電話:0510-85623588
            網址:www.amylynw.com
            地址:無錫市高浪路999號太湖科技中心A座A107室
            行業資訊
            您的位置: 新聞資訊 > 行業資訊 > 詳細信息

            如何區分CP測試和FT測試?

            所屬類別:2020-06-29 閱讀:2706次
                針對技術專業的測試工作人員有關CP測試和FT的測試肯定是十分的了解了,但許多非測試技術專業的從業者對這兩個定義實際上掌握并不象那般刻骨銘心。因此文中將針對這些必須觸碰測試但并不是測試工作人員的人開展有關CP和FT的測試的解讀。
                依照慣例,最先必須再解釋一下什么叫CP測試和FT測試。CP是(ChipProbe)的簡稱,指的是集成芯片在wafer的環節,就根據探針卡扎到集成芯片引腳上對集成芯片開展特性及作用測試,有時這道工藝過程也稱之為WS(WaferSort);而FT是FinalTest的簡稱。
            因為測試夾具上的差別,CP和FT的不同之處并不僅僅限于所在的工藝流程環節不一樣,二者在高效率和作用遮蓋上面擁有顯著的差別,這種信息內容是每一個芯片從業者必須基礎掌握的。
                在絕大部分狀況下,尤其是在中國,大家現階段在CP測試上采用的探頭都還是懸壁針(也是有叫環氧樹脂針的,由于針是用環氧樹脂膠固定不動的原因)。這類種類的針較為長,并且是懸在空中的,信號完整性操縱上十分艱難,因此一般數據信息的最大傳輸速率僅有100~400Mbps,髙速數據信號的測試是基本上不太可能的;此外,探頭和pad的直接接觸在電氣設備特性上也是有局限性,非常容易造成走電和回路電阻,這針對高精密的數據信號精確測量也會產生極大的危害。因此,一般 CP測試只是用以基礎的聯接測試和低速檔的數字電路設計測試。

            相關產品:

            烘箱
            烘箱
            STS 8202B
            STS 8202B
            晶舟盒
            晶舟盒
            真空包裝機
            真空包裝機
            STS 8200B
            STS 8200B
            Copyright © 2018 無錫星杰測試有限公司 All Rights Reservrd 版權所有 技術支持:無錫網絡推廣 蘇ICP備18013164號-1
            網站部分圖片來自互聯網,如有侵權,請及時通知,我們會及時更換!  XML  HTML
            尤物精品视频无码福利网_2021无码专区人妻系列日韩_亚洲欧美日韩中文无线码_波多野吉衣一级黄片