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            80年代關于wafertest測試的突破性發展

            所屬類別:2020-08-10 閱讀:652次
                在八十年代初期,我們國家的很多公司就已經提出了射頻晶圓測試方案。后期對于探針測試的研究又有了新的發展,尤其是wafertest測試的出現,讓探針測試開始了晶圓片測試的旅程。那么這個過程中,到底發生了哪些改變呢?從80年代開始,國外對于這項技術的推動有哪些變化歷程呢?
                從80年代開始,關于wafertest測試就在短時間發生了很大的變化,直接擴展到了28GHZ,并且后期在短短的一年時間之內,這個擴展就已經到達了50GHZ。這是因為后期的單片微波集成越來越大,探針的波段從91年開始出現變化,到93年的時候就已經出現了直接的質的飛躍。在1990年,美國的相關公司提出了可替換的探針技術。這個技術直接讓探針的主題移動都改變了,陶瓷頂尖技術更多。WPH探針針對于之前的技術進行了改造,用最小的壓力實現最大的波動,甚至已經達到了最小的力量波動。也正是因為這個技術的改造,后期才有了“死亡之聲”的出現。陶瓷探針破裂額聲音讓很多工程師都感受到了絕望,因為在當時,其實探針的研究還是非常昂貴的,付出的金錢成本和時間成本都很大。這種情況下,我們要保證陶瓷探針的技術突破,就必須要在市場上慢慢研究?傊,其實1988年是一個里程碑的時代,那個年代有了很多專利的出現,機械方面的改善很多。

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