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            4568寸片測試的基本要求和工作原理

            所屬類別:2020-08-18 閱讀:1041次
                 隨著工程師對于4568寸片測試的不斷突破,我們已經確定了測試的基本要求和工作原理。下面我們就來詳細看一下吧。首先是,關于探針的平面輸入情況測試,探針的平面傳輸線必須要和壓點接觸,但是并不需要一定接觸導線,導線和壓點是兩個不同的接觸點。如果后期要進行微帶線的測試,那么就需要進行共面探針的設計了。這個接觸的點是金屬球,并且要讓金屬球可以反復測試,金屬球的重量可以設計得稍微重一點,才重復測試中不會產生很大的摩擦。
                關于信號壓點的接觸,為了讓壓點可以接觸,必須要讓探針進一步傾斜。在4568寸片測試中,我們將其稱之為平面化探針。
                探針需要重復性接觸,但是聯軸器不能重復性接觸。探針的兩端可以進行反復磨平,這是一個專業的高度校準模式。通過反復性的接觸,探針的準確性進一步加強了,探針的損耗越多,其實反射只會越來越多。最終這之間產生的誤差會越來越小。
                最后,在測試中,大家對于平面的標準化測試會相對容易一點。但是對于不規則的幾何形狀的測試會比較難一些。這個時候我們可以采用模型參考數據測試方法。也就是打造一個相關的數據模型,然后通過這個數據模型來改變幾何尺寸,慢慢和這個不規則的幾何圖形吻合即可。

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