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            CP測試用到的工具是什么?

            所屬類別:2020-09-10 閱讀:996次
                CP測試是芯片測試的重要測試方向之一,芯片測試繼續接觸FT測試,但兩者在輸出方法上有很大差異。CP測試主要根據探針檢查整合ic,根據相關流程輸入特定的數據信號,最后檢測整合ic是否有一定的應對規定。
                目前,中國許多 地區CP測試最常見的專用工具是還氧針,該針實際上由還氧環氧樹脂制成,針管非常多,針管與針管之間的間隔非常小,密封性和一致性非常大,信號測試不完整。CP測試一般不容易規定高速測試。另外,在電氣設備的特性上,這樣的檢查也有一定的誤差的可能性很高,探針和PAD之間的接觸會造成一定的危害。實際操作人員在開展工作時,必須注意避免 電源。如果有大接觸的電阻,必須考慮其他大中型芯片測試方法。
                CP測試要充分考慮marginalfail,尋找最佳計劃方案。集成ic的功能損失也是必須考慮的因素,芯片測試與主板芯片相比,只有一般的開關電源功能損失,由于其探針的限制,在加工過程中發生異常的可能性很高。CP測試會導致 一些芯片測試的不穩定因素,也就是說,每個人都在談論arginalfail。這種批量生產檢測效率低,即使在CP全過程中有一定的解決方法,也必須尋找最佳方法。

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