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            CP測試中是否要考慮芯片的功耗問題呢?

            所屬類別:2021-04-21 閱讀:762次
                  CP測試在芯片測試中會遇到哪些問題?CP測試是芯片測試中一個重要的測試方向,而FT測試在芯片測試中也會遇到,但它們在輸出方式上有很大的不同。CP測試主要是通過探頭檢測芯片,通過相關回流輸入指定的信號,測試芯片是否有一定的響應要求。
                  陰極保護測試主要依靠環氧針頭,這可能有一定的局限性
                  目前,我國許多地區陰極保護測試常用的工具是返氧針頭。這種針頭實際上是由返氧樹脂制成的,針頭很多,針頭之間的距離很小。也正是由于密封性和完整性的巨大差異,導致信號測試不完整。CP測試通常不需要高速測試。另外,由于探頭與焊盤的接觸會產生一定的影響,所以在電氣性能上可能會有一定的偏差。操作人員在工作中,要注意防止漏電,如果有比較大的接觸電阻,那么就需要考慮另一種大芯片的測試方法。
                  CP測試需要考慮邊際失效,尋找優解
                  芯片的功耗也是一個需要考慮的因素,因為芯片測試與主控芯片相比只是一個一般的功耗。由于探頭的局限性,在生產過程中可能會出現一些異常情況。CP測試會導致芯片測試中的一些不穩定因素,稱為邊緣失效。這種量產測試效率相對較低,即使在CP過程中有一定的解決方案,也需要找到合適的方法,當然尋找的過程是一個長期的過程,經過技術的研究才可以找到合適方案。

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