<big id="ptv1b"><th id="ptv1b"><thead id="ptv1b"></thead></th></big>
    <track id="ptv1b"></track>

      <del id="ptv1b"><address id="ptv1b"><ol id="ptv1b"></ol></address></del>
      <p id="ptv1b"></p>

      <listing id="ptv1b"></listing>
      <track id="ptv1b"></track><p id="ptv1b"></p>

      <listing id="ptv1b"><progress id="ptv1b"></progress></listing>

      <big id="ptv1b"><noframes id="ptv1b">

        <video id="ptv1b"></video>

          <output id="ptv1b"></output>
            您好,歡迎您進入無錫星杰測試有限公司官方網站!
            24小時服務熱線:15961723550

            新聞資訊

            聯系我們/Contact Us
            聯系人:浦經理
            手機:15961723550
            電話:0510-85623588
            網址:www.amylynw.com
            地址:無錫市高浪路999號太湖科技中心A座A107室
            公司新聞
            您的位置: 新聞資訊 > 公司新聞 > 詳細信息

            圓片測試是決定芯片功能測試的關鍵一步

            所屬類別:2021-05-12 閱讀:657次
                   圓片測試在芯片測試中扮演什麼角色?我們都知道,為了實現芯片測試的全過程,需要采用不同的手段和方法。這包括觸發測試方法、晶圓測試方法、產品后的封裝測試、lt測試、各方面的質量和可靠性測試。只有合理安排每一步,整個芯片測試才能達到完美的效果。我們來談談電路板測試和圓片測試之間的關系。
                   圓片測試是功能測試的一個重要方向。一般來說,需要模擬一個正常的芯片工作環境,連接接口,看看芯片的主要功能是什么,在整個環境因素下芯片能否正常工作,需要使用什么儀器設備。這些都是需要評估的方面。
             
                   另外,圓片測試是性能測試的重要一步。我們想看看芯片在使用過程中是否會出現故障,會發生什么故障,故障是否可以自行修復。這需要涉及芯片故障的問題。晶圓測試實際上就是將信號輸入到相應的信號中,對芯片進行響應和抓取。我們可以測試儀器的針臺,也可以制作相應的探視針。
             
                   還有一個可靠性測試。這是對芯片的后一次測試,因為一個好芯片的質量需要是穩定的。如果是在相對惡劣的天氣環境下,芯片能否正常工作。這些芯片能否在雷電多、氣溫高、風雪大的天氣下維持正常運行,有的可以走一個月,有的可以堅持幾年。這需要性能測試才能完成。

            相關產品:

            萬用表
            萬用表
            高倍顯微鏡
            高倍顯微鏡
            探針臺UF200
            探針臺UF200
            示波器
            示波器
            烘箱
            烘箱
            Copyright © 2018 無錫星杰測試有限公司 All Rights Reservrd 版權所有 技術支持:無錫網絡推廣 蘇ICP備18013164號-1
            網站部分圖片來自互聯網,如有侵權,請及時通知,我們會及時更換!  XML  HTML
            尤物精品视频无码福利网_2021无码专区人妻系列日韩_亚洲欧美日韩中文无线码_波多野吉衣一级黄片