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            如何打造更出色的晶圓測試環境?

            所屬類別:2021-08-28 閱讀:346次
                   由于科技的助力,晶圓測試工藝也擁有更多新型技術,由于芯片的量很龐大,因此電力需求也并不少,為了帶來大功率的測試,同時讓測試環境的溫度適合設備運行,保障設備的穩定,更為有效的進行檢測,是電力設備廠商所追求實現的。
                  卡盤是檢測設備的主要配件,晶圓測試對溫度要求很高,因此卡盤的溫度環境需要實現均衡、平穩,電壓更高的檢測情況,卡盤的打造需要具備高電壓情況也能使用的設置,因此電流增漲等情況的散熱措施就需要完善,否則晶圓就容易產生損害。大家知道高溫情況是由于探針測試芯片時接觸的電阻太大,從而讓升溫情況出現。那么減少這一電阻,就能避免出現芯片損害等問題,當然漏電等電力問題也需要避免,從而為晶圓測試流程帶來出色的應用環境。

                   如今的檢測設備能在很高的電壓環境避免漏電、絕緣故障等問題,而且檢測適應的溫度更為廣泛,這一設備的產生,有效解決了晶圓測試的很多問題,讓檢測工藝得以升級。該工藝是通過選擇很多的絕緣材料通過溫度的變化進行試驗,投入等因素同樣進行考量,從而挑選出色的材料,讓接觸電阻有效降低,從而減少了漏電的情況。通過升級探針等配件,如今的檢測設備擁有更為出色的穩定性,滿足高標準的使用需求。
             

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